Микроскоп лазерный сканирующий TIRF 3, система полного внутреннего отражения, Zeiss
Вопросы о наличии, цене, фасовке и характеристиках
принимаем ТОЛЬКО по почте info@npfatlas.ru
Работаем только с юр. лицами и ИП. Заявки на info@npfatlas.ru
Контакты
Микроскоп лазерный сканирующий TIRF 3, система полного внутреннего отражения, Zeiss

Микроскоп лазерный сканирующий TIRF 3, система полного внутреннего отражения, Zeiss

картинка Микроскоп лазерный сканирующий TIRF 3, система полного внутреннего отражения, Zeiss
0 руб.
Производитель
Zeiss

Цена 0 руб. за 1 шт

Количество
Заказать
  • Полное описание

Система предназначена для наблюдения за процессами, происходящими на поверхности клетки. Полное отражение внефокусного света позволяет получать изображения клеточнои? мембраны с непревзои?денным разрешением.

Области применения: изучение быстродвижущихся структур, исследование трансмембранного переноса (в том числе транспорта кальция), FRET.

Система <> базируется на модульной платформе инвертированного микроскопа Axio Observer с шагом движения по Z -10 нм и с широким спектром дополнительных опций инкубации. TIRF слайдер просто вставляется в плоскость полевой диафрагмы микроскопа, а программное обеспечение ZEN дает возможность полностью управлять системой и дает широкий спектр дополнительных функций анализа и обработки изображения. В системе используются специализированные высокоапертурные объективы, а также специально разработанные наборы фильтров, благодаря которым вы можете добиться максимального разрешения и контрастности.

Флуоресценция полного внутреннего отражения с использованием лазеров в качестве источников легко сочетается со всеми известными светлопольными методами контрастирования при обеспечении надежной лазерной безопасности.

Система TIRF 3 зарекомендовала себя в определении областей клеточной адгезии с высокой четкостью и разрешением, визуализации энодо- и экзоцитоза везикул с максимальной быстротой, детекции отдельных молекул с высокой контрастностью при полном подавлении фона, а также наблюдении межклеточных взаимодействий с высокой чувствительностью.

Технические характеристики:

  • штативы - инвертированный микроскоп Axio Observer Z1, D1,,
  • ручной или моторизованный слайдер для отклонения лазерного луча с точностью изменения угла 0,1
  • специально разработанная апохроматическая оптика слайдера гарантирует высокий контраст и четкость изображения,
  • лазерные линии - 405 нм (50 мВт), 488 нм (100 мВт и 20 мВт), 532 нм (75 мВт и 20 мВт), 561 нм (40 мВт / 20 мВт), 635 нм (30 мВт),
  • специализированные объективы - ?Plan-Fluar 100x/1.45 Oil (угол TIRF до 72), ?Plan-Apochromat 100x/1.46 Oil (угол TIRF до 73,2),
  • чувствительные камеры, высокоэффективные мультилинейные светофильтры, пьезорегулируемое изменение угла лазерного луча - позволяют исследовать быстротекущие динамические процессы, например – трансмембраннй перенос,